回路電阻測(cè)試儀測(cè)試中可能存在的問(wèn)題？

回路電阻測(cè)試儀現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試中可能存在的問(wèn)題有哪些？

回路電阻測(cè)試儀在電力行業(yè)中應(yīng)用十分廣泛。在實(shí)際試驗(yàn)過(guò)程中也會(huì)遇到一些問(wèn)題，總結(jié)回路電阻測(cè)試儀現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試中可能存在的問(wèn)題有哪些。

目前市場(chǎng)上大部分回路電阻測(cè)試儀原理是采用典型的四線制測(cè)量法，由高頻開(kāi)關(guān)電源提供大于100A的測(cè)試電流，按下測(cè)量鍵時(shí)，高頻開(kāi)關(guān)電源輸出大于100A以上的測(cè)試電流，同時(shí)采樣電路開(kāi)始采樣，取得的信號(hào)經(jīng)放大器放大，由A/D轉(zhuǎn)換器將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)后，再經(jīng)微處理器對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波、運(yùn)算、處理，后送顯示器顯示出此次測(cè)量的電流和電阻值。并可以在當(dāng)電流測(cè)試回路出現(xiàn)斷線或接觸不良時(shí)，儀器會(huì)根據(jù)電流分流器上的電壓判斷出電流回路接觸不良或開(kāi)路。

一、現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試可能存在的問(wèn)題：

按照常規(guī)設(shè)計(jì)原理設(shè)計(jì)的回路電阻測(cè)試儀在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn)，都普遍存在一個(gè)問(wèn)題：當(dāng)測(cè)試儀電壓接線回路出現(xiàn)接觸不良或開(kāi)路時(shí)，測(cè)試儀還會(huì)顯示一個(gè)數(shù)值，此時(shí)會(huì)出現(xiàn)以下幾種情況：

（1）電壓回路開(kāi)路，測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)沒(méi)有強(qiáng)電場(chǎng)干擾，這種情況下，由于放大器輸入的差模電壓基本為0，故儀器顯示的測(cè)試數(shù)值接近為0，如果測(cè)試人員有足夠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，可以判斷出是儀器電壓回路測(cè)試線異常，將儀器電壓回路測(cè)試線異常排除后，可以得出終正確測(cè)試結(jié)果；

（2）電壓回路接觸不良，大多數(shù)情況下斷路器的接線端子在長(zhǎng)期運(yùn)行后端子排外表面會(huì)產(chǎn)生氧化膜或油膜，當(dāng)回路電阻儀的電壓測(cè)試鉗夾接到這樣的端子排上時(shí)就可能產(chǎn)生接觸不良，既電壓測(cè)試線鉗夾本身也要產(chǎn)生一定的接觸電阻，該接觸電阻值達(dá)到與電壓采樣回路的內(nèi)阻值相當(dāng)時(shí)，將對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生嚴(yán)重影響。

（3）電壓回路開(kāi)路或接觸不良（開(kāi)路時(shí)可視接觸電阻R1無(wú)窮大），測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)有較強(qiáng)的電磁干擾，如母線帶電，此時(shí)帶電母線通過(guò)以空氣為介質(zhì)的電容，干擾測(cè)試儀的兩條電壓測(cè)試線，由于干擾的作用使回路測(cè)試儀電壓采集線兩端出現(xiàn)差模電壓。

二、利用改進(jìn)型四線制測(cè)量法解決以上問(wèn)題：

回路電阻測(cè)試儀根據(jù)對(duì)以上問(wèn)題的分析，采用電源技術(shù)，通過(guò)大電流恒流源給試品加電測(cè)試，采集電壓電流的數(shù)值，計(jì)算試品的電阻值，克服了脈沖式電源瞬間電流的弊端，可以有效的擊穿開(kāi)關(guān)觸頭氧化膜，解決目前傳統(tǒng)回路電阻測(cè)試儀存在的問(wèn)題。